logo
Opto-Edu (Beijing) Co., Ltd. 0086-13911110627 sale@optoedu.com
Opto Edu A63.7140A63.7160 2000000x Schottky Field Emission Scanning Electron Microscope

Opto Edu A63.7140A63.7160 2000000x Mikroskop elektroniczny skanujący emisję pola Schottky'ego

  • Podkreślić

    2000000x Mikroskop elektroniczny skanujący

    ,

    Mikroskop elektronowy skanujący emisję pola Schottky

    ,

    Mikroskop elektronowy optoedu

  • Resolution
    0.9nm@30kV(SE) 1.4nm@15kV(SE)
  • Powiększenie
    1 ~ 2000000x
  • Electron Gun
    Schottky Field Emission Gun
  • Voltage
    0.02kV~30kV
  • Electron Beam
    1pA~40nA
  • Dwell Time
    20ns
  • Miejsce pochodzenia
    Chiny
  • Nazwa handlowa
    CNOEC, OPTO-EDU
  • Orzecznictwo
    CE, Rohs
  • Numer modelu
    A63.7040
  • Dokument
  • Minimalne zamówienie
    1 proc.
  • Cena
    FOB $1~1000, Depend on Order Quantity
  • Szczegóły pakowania
    Opakowanie kartonowe, do transportu eksportowego
  • Czas dostawy
    5 ~ 20 dni
  • Zasady płatności
    T/T, West Union, Paypal
  • Możliwość Supply
    5000 szt./miesiąc

Opto Edu A63.7140A63.7160 2000000x Mikroskop elektroniczny skanujący emisję pola Schottky'ego

Opto Edu A63.7140A63.7160 2000000x Mikroskop elektroniczny skanujący emisję pola Schottky'ego 0
 
Opto Edu A63.7140A63.7160 2000000x Mikroskop elektroniczny skanujący emisję pola Schottky'ego 1
 
Opto Edu A63.7140A63.7160 2000000x Mikroskop elektroniczny skanujący emisję pola Schottky'ego 2
 
Specyfikacja A63.7140 A63.7160
Kluczowe parametry Rozstrzygnięcie
1.4nm@15kV ((SE)
2.5nm@30.0kV ((BSE)
0.9nm@30kV ((SE)
1.2nm@15kV ((SE)
1.5nm@1kV(SE, tryb BD)
Napęd przyspieszający 00,02 kV/30 kV 00,02 kV/30 kV
Zwiększenie 1/2000000x 1/2000000x
Elektrowa broń Schottky Thermal Field Emission Gun (Pistolet do emisji pola cieplnego Schottky) Schottky Thermal Field Emission Gun (Pistolet do emisji pola cieplnego Schottky)
Prąd sondy 1pA ~ 40nA 1pA ~ 40nA
Pole widzenia 6 mm 6 mm
Czas pobytu 20n 20n
Odchylenie wiązki - Tak. System odchylenia podwójnej wiązki:
Elektromagnetyczny i statyczny hybrydowy układ odchylenia wiązki
Obiektyw System podwójnych celów:
Obiektyw magnetyczny i obiektyw elektrostatyczny, próbka magnetyczna dostosowalna
System podwójnych celów:
Obiektyw magnetyczny i obiektyw elektrostatyczny, próbka magnetyczna dostosowalna
Otwór strzelby (10μm, 30μm, 70μm, 100μm, 150μm, 220μm) * 2 zestawy (1 do zapasowego), ruch motoryzowany (10μm, 30μm, 70μm, 100μm, 150μm, 220μm) * 2 zestawy (1 do zapasowego), ruch motoryzowany
Izba Wielkość komory Szerokość 370 mm, wysokość 330 mm, głębokość 344 mm Szerokość 370 mm, wysokość 330 mm, głębokość 344 mm
Port rozszerzający 10 Porty 10 Porty
System próżniowy 2 pompy jonowe
1 pompa turbo molekularna
1 Bez oleju pompy mechanicznej
2 pompy jonowe
1 pompa turbo molekularna
1 Bez oleju pompy mechanicznej
Próżnia broni: 2x10-7Pa
Próżnia komory: 6x10-4Pa
Próżnia broni: 2x10-7Pa
Próżnia komory: 6x10-4Pa
Etap 5 osi Auto Stage, X:130mm, Y:130mm, Z:60mm, R: 360°, T: -10°/70°, maksymalne obciążenie > 500 g 5 osi Auto Stage, X:130mm, Y:130mm, Z:60mm, R: 360°, T: -10°/70°, maksymalne obciążenie > 500 g
Kamera Optyczna nawigacja kolorów CCD
Wysokiej rozdzielczości IR CCD
Optyczna nawigacja kolorów CCD
Wysokiej rozdzielczości IR CCD
Detektory i rozszerzenia Standardowy Detektor SE Detektor SE
Detektor wnętrza soczewek
PC i oprogramowanie Komputer Stacja robocza, pamięć 16G, dysk twardy 512G, 24" monitor, system Win10 Stacja robocza, pamięć 16G, dysk twardy 512G, 24" monitor, system Win10
Kontrola Panel sterowania i joystick Panel sterowania i joystick
Oprogramowanie Autofokus, Auto Stigmator, Auto kontrast jasności, Format obrazu TIFF,JPG,PNG,BMP, rozdzielczość wyjścia obrazu Max 16k*16k Autofokus, Auto Stigmator, Auto kontrast jasności, Format obrazu TIFF,JPG,PNG,BMP, rozdzielczość wyjścia obrazu Max 16k*16k
Akcesoria opcjonalne A50.7101 BSE BSE
A50.7102 - InLens BSE
A50.7103 Spektroskopia dispersyjna energii (EDS/EDX) Spektroskopia dispersyjna energii (EDS/EDX)
A50.7104 Wzorzec dyfrakcji odwrotnego rozpraszania elektronów (EBSD) Wzorzec dyfrakcji odwrotnego rozpraszania elektronów (EBSD)
A50.7105 EDS+EBSD EDS+EBSD
A50.7106 Skanowanie elektronów przesyłowych (STEM) Skanowanie elektronów przesyłowych (STEM)
A50.7107 Prąd indukcyjny wiązki elektronów (EBIC) Prąd indukcyjny wiązki elektronów (EBIC)
A50.7108 Katodoluminescencja (CL) Katodoluminescencja (CL)
A50.7109 Płyn Płyn
A50.7110 Szczelina powietrzna, magazyn wymiany próbek Szczelina powietrzna, magazyn wymiany próbek
A50.7111 Wykrywacz wiązki Wykrywacz wiązki
A50.7120 Oprogramowanie do szycia dużych obrazów Oprogramowanie do szycia dużych obrazów
A50.7121 Oprogramowanie do analizy cząstek Oprogramowanie do analizy cząstek
A50.7112 Podtrzymacz przenoszenia próżni Podtrzymacz przenoszenia próżni
A50.7113 System korelacyjny Raman-SEM System korelacyjny Raman-SEM
A50.7115 UPS UPS
A50.7114 - Wbudowany w kolumny urządzenie do montażu energii ExB
 
Opto Edu A63.7140A63.7160 2000000x Mikroskop elektroniczny skanujący emisję pola Schottky'ego 3

Duża kompatybilność, duża adaptacyjność

Można je zainstalować na różnych terminalach, takich jak komputery, telefony komórkowe i tablety, w celu sterowania mikroskopem elektronicznym;Ten system operacyjny mikroskopu elektronicznego SEM-OS jest kompatybilny z SEM różnych producentów i jest kompatybilny z wieloma modelami, rozszerzenie ekosystemu SEM

 

Zintegrowane oprogramowanie i komputery, proste i wydajne

Zjednoczone interfejs użytkownika, bez konieczności wielokrotnego dostosowywania do różnych terminali;Wyposażone w algorytmy sztucznej inteligencji do zbierania informacji i prezentowania efektów wyjściowych w czasie rzeczywistym z jaśniejszą jakością obrazu i bardziej widocznymi szczegółami; SEM napędzany przez jądro przyspiesza sterowanie sprzętem

 
Opto Edu A63.7140A63.7160 2000000x Mikroskop elektroniczny skanujący emisję pola Schottky'ego 4

1 paska menu, 2 obszar szybkiego działania, 3 paska danych, 4 obszar monitorowania, 5 obszar nawigacji, 6 obszar kompleksowy, 7 obszar działania, 8 obszar stanu

 
Opto Edu A63.7140A63.7160 2000000x Mikroskop elektroniczny skanujący emisję pola Schottky'ego 5
 
Opto Edu A63.7140A63.7160 2000000x Mikroskop elektroniczny skanujący emisję pola Schottky'ego 6

Mikroskop elektronów skanujących z serii A63.7140/A63.7160 wyposażony jest w pręty przenośne próżniowe IGS, spektrometry energii EDS, spektroskopię Ramana i inne akcesoria,dostarczanie kompleksowego rozwiązania do badań baterii litowych od przygotowania próbek, obserwacja morfologii, analiza składu i analiza strukturalna.

 
Opto Edu A63.7140A63.7160 2000000x Mikroskop elektroniczny skanujący emisję pola Schottky'ego 7
 
Opto Edu A63.7140A63.7160 2000000x Mikroskop elektroniczny skanujący emisję pola Schottky'ego 8
 
Opto Edu A63.7140A63.7160 2000000x Mikroskop elektroniczny skanujący emisję pola Schottky'ego 9
 

Krok 1:Przetwornik przenośny zostaje załadowany do schowka rękawiczkowego w celu zakończenia przenoszenia próbki z schowka rękawiczkowego do schowka przenośnego.

 

Krok 2:Proces przenoszenia próbki polega na przenoszeniu ciśnienia dodatniego do komory pręta podczas procesu przenoszenia.

 

Krok 3:Przetwornik przenośny jest załadowany na mikroskop elektroniczny w celu przenoszenia próbki z komory przenośnej do komory głównej mikroskopu elektronicznego.

 

Krok 4:Zdjęcie próbek i przetwarzanie danych, dostosowanie do potrzeb użytkownika.

 

 

SEM+ EDS spektrometr + przenośnik próżni + spektroskopia Ramana + oprogramowanie analityczne

 

Analiza strukturalna. Analiza mechanizmów. Wysokiej precyzji tabela przesunięć.

▪ Wykonaj analizę struktury molekularnej, której nie potrafią dokonać urządzenia EDS, i w pełni zrozum skład próbki

▪ Szybkie przełączanie pomiędzy ośą optyczną Ramana a ośą optyczną wiązki elektronów, wielowymiarowa analiza cech próbki i śledzenie w czasie rzeczywistym. Ewolucja strukturalna materiałów podczas procesów ładowania i rozładowania oraz dogłębne badanie ich mechanizmów wspomagających

▪ Duży układ, wysokiej precyzji, wysokiej prędkości piezoelektryczny stolik z przemieszczaniem ceramiki, umożliwiający zintegrowane przechwytywanie danych w tej samej pozycji,Spotkanie Analiza stabilności długoterminowej powierzchni konfocalnej Ramana

 
Opto Edu A63.7140A63.7160 2000000x Mikroskop elektroniczny skanujący emisję pola Schottky'ego 10
 
Opto Edu A63.7140A63.7160 2000000x Mikroskop elektroniczny skanujący emisję pola Schottky'ego 11
 
Opto Edu A63.7140A63.7160 2000000x Mikroskop elektroniczny skanujący emisję pola Schottky'ego 12
 
Opto Edu A63.7140A63.7160 2000000x Mikroskop elektroniczny skanujący emisję pola Schottky'ego 13
 
Opto Edu A63.7140A63.7160 2000000x Mikroskop elektroniczny skanujący emisję pola Schottky'ego 14
 
Opto Edu A63.7140A63.7160 2000000x Mikroskop elektroniczny skanujący emisję pola Schottky'ego 15
Opto Edu A63.7140A63.7160 2000000x Mikroskop elektroniczny skanujący emisję pola Schottky'ego 16
 
Opto Edu A63.7140A63.7160 2000000x Mikroskop elektroniczny skanujący emisję pola Schottky'ego 17
 
Opto Edu A63.7140A63.7160 2000000x Mikroskop elektroniczny skanujący emisję pola Schottky'ego 18
 
Opto Edu A63.7140A63.7160 2000000x Mikroskop elektroniczny skanujący emisję pola Schottky'ego 19