Wyślij wiadomość
Opto-Edu (Beijing) Co., Ltd. 0086-13911110627 sale@optoedu.com
Opto Edu A62.4503 Atomic Force Microscope Research Level 360 Angle

Opto Edu A62.4503 Mikroskop Sił Atomowych Poziom Badawczy 360 Kąt

  • High Light

    360-kątny mikroskop sił atomowych

    ,

    mikroskop sił atomowych na poziomie badawczym

    ,

    mikroskop opto edu na poziomie badawczym;

  • Tryb pracy
    "Tryb kontaktu Tryb stukania 【Opcjonalny】 Tryb tarcia Tryb fazowy Tryb magnetyczny Tryb elektro
  • Aktualna krzywa widma
    „Krzywa RMS-Z Krzywa siły F-Z”
  • Zakres skanowania XY
    50×50um
  • Rozdzielczość skanowania XY
    0,2 nm
  • Zakres skanowania Z
    5um
  • Rozdzielczość skanowania Y
    0,05Nm
  • Szybkość skanowania
    0,6Hz~30Hz
  • Kąt skanowania
    0~360°
  • Wielkość próbki
    "Φ≤90mm H≤20mm"
  • Amortyzująca konstrukcja
    „Metalowa skrzynka osłonowa z zawieszeniem sprężynowym”
  • System optyczny
    „10x rozdzielczość obiektywu 1um”
  • Wyjście
    USB2.0/3.0
  • Oprogramowanie
    Wygraj PD/7/8/10
  • Miejsce pochodzenia
    Chiny
  • Nazwa handlowa
    OPTO-EDU
  • Orzecznictwo
    CE, Rohs
  • Numer modelu
    A62.4503
  • Minimalne zamówienie
    1 szt
  • Cena
    FOB $1~1000, Depend on Order Quantity
  • Szczegóły pakowania
    Opakowanie kartonowe, do transportu eksportowego
  • Czas dostawy
    5 ~ 20 dni
  • Zasady płatności
    L/C, T/T, Western Union
  • Możliwość Supply
    5000 szt / miesiąc

Opto Edu A62.4503 Mikroskop Sił Atomowych Poziom Badawczy 360 Kąt

Mikroskop sił atomowych na poziomie badawczym

  • Poziom badawczy, połączony projekt kontrolera i korpusu, z trybem kontaktu, trybem stukania, 10-krotnym celem.
  • Precyzyjne urządzenie do pozycjonowania lasera i sondy, wymiana sondy i regulacja miejsca jest prosta i wygodna;
  • Wysokoprecyzyjne i wielkoskalowe piezoelektryczne skanery ceramiczne można dobierać zgodnie z różnymi wymaganiami dotyczącymi dokładności i zakresu skanowania
  • Optyczne pozycjonowanie obiektywu 10X APO, bez konieczności ustawiania ostrości, obserwacja w czasie rzeczywistym i pozycjonowanie obszaru skanowania próbki sondy;
  • Odporna na wstrząsy metoda zawieszenia sprężynowego jest prosta i praktyczna oraz ma silne właściwości przeciwzakłóceniowe.
  • Opto Edu A62.4503 Mikroskop Sił Atomowych Poziom Badawczy 360 Kąt 0
  • Opto Edu A62.4503 Mikroskop Sił Atomowych Poziom Badawczy 360 Kąt 1
  • ◆ Głowica wykrywająca laser i etap skanowania próbki są zintegrowane, struktura jest bardzo stabilna, a przeciwdziałanie zakłóceniom jest silne

  • ◆ Precyzyjne urządzenie do pozycjonowania sondy, regulacja wyrównania plamki laserowej jest bardzo łatwa

    ◆ Próbka z napędem jednoosiowym automatycznie zbliża się do sondy pionowo, dzięki czemu końcówka igły jest prostopadła do skanu próbki

    ◆ Inteligentna metoda podawania igły sterowanej silnikiem ciśnieniowej piezoelektrycznej ceramicznej automatycznej detekcji chroni sondę i próbkę

  •  

    ◆ Można dowolnie wybierać precyzyjne i szeroko zakrojone piezoelektryczne skanery ceramiczne

     

    ◆ Automatyczne pozycjonowanie optyczne obiektywu o dużym powiększeniu, brak konieczności ustawiania ostrości, obserwacja w czasie rzeczywistym i pozycjonowanie obszaru skanowania próbki sondy

  • ◆Metoda wstrząsoodporna zawieszenia sprężynowego, prosta i praktyczna, dobry efekt wstrząsoodporny

    ◆ Metalowe, dźwiękoszczelne pudełko, wbudowany precyzyjny czujnik temperatury i wilgotności, monitorowanie środowiska pracy w czasie rzeczywistym

  • ◆ Zintegrowany edytor użytkownika korekcji nieliniowej skanera, charakterystyka nanometryczna i dokładność pomiaru lepsza niż 98%

  •  
  • Opto Edu A62.4503 Mikroskop Sił Atomowych Poziom Badawczy 360 Kąt 2

  • Opto Edu A62.4503 Mikroskop Sił Atomowych Poziom Badawczy 360 Kąt 3

  • Opto Edu A62.4503 Mikroskop Sił Atomowych Poziom Badawczy 360 Kąt 4

  • Opto Edu A62.4503 Mikroskop Sił Atomowych Poziom Badawczy 360 Kąt 5

  • Opto Edu A62.4503 Mikroskop Sił Atomowych Poziom Badawczy 360 Kąt 6

  • Opto Edu A62.4503 Mikroskop Sił Atomowych Poziom Badawczy 360 Kąt 7

  • Opto Edu A62.4503 Mikroskop Sił Atomowych Poziom Badawczy 360 Kąt 8

  • Opto Edu A62.4503 Mikroskop Sił Atomowych Poziom Badawczy 360 Kąt 9

  • Specyfikacja A62.4500 A622.4501 A62.4503 A62.4505
    Tryb pracy Tryb stukania

    [Opcjonalny]
    Tryb kontaktu
    Tryb tarcia
    Tryb fazy
    Tryb magnetyczny
    Tryb elektrostatyczny
    Tryb kontaktu
    Tryb stukania

    [Opcjonalny]
    Tryb tarcia
    Tryb fazy
    Tryb magnetyczny
    Tryb elektrostatyczny
    Tryb kontaktu
    Tryb stukania

    [Opcjonalny]
    Tryb tarcia
    Tryb fazy
    Tryb magnetyczny
    Tryb elektrostatyczny
    Tryb kontaktu
    Tryb stukania

    [Opcjonalny]
    Tryb tarcia
    Tryb fazy
    Tryb magnetyczny
    Tryb elektrostatyczny
    Aktualna krzywa widma Krzywa RMS-Z

    [Opcjonalny]
    Krzywa siły FZ
    Krzywa RMS-Z
    Krzywa siły FZ
    Krzywa RMS-Z
    Krzywa siły FZ
    Krzywa RMS-Z
    Krzywa siły FZ
    Zakres skanowania XY 20×20um 20×20um 50×50um 50×50um
    Rozdzielczość skanowania XY 0,2 nm 0,2 nm 0,2 nm 0,2 nm
    Zakres skanowania Z 2,5um 2,5um 5um 5um
    Rozdzielczość skanowania Y 0,05nm 0,05nm 0,05nm 0,05nm
    Szybkość skanowania 0,6Hz~30Hz 0,6Hz~30Hz 0,6Hz~30Hz 0,6Hz~30Hz
    Kąt skanowania 0~360° 0~360° 0~360° 0~360°
    Wielkość próbki Φ≤90mm
    H≤20mm
    Φ≤90mm
    H≤20mm
    Φ≤90mm
    H≤20mm
    Φ≤90mm
    H≤20mm
    Ruch na scenie XY 15×15mm 15×15mm 25×25um 25×25um
    Amortyzująca konstrukcja Zawieszenie sprężynowe Zawieszenie sprężynowe
    Metalowe pudełko ekranujące
    Zawieszenie sprężynowe
    Metalowe pudełko ekranujące
    -
    System optyczny 4x Cel
    Rozdzielczość 2,5um
    4x Cel
    Rozdzielczość 2,5um
    10x Cel
    Rozdzielczość 1um
    Okular 10x
    Plan nieskończoności LWD APO 5x10x20x50x
    Aparat cyfrowy 5.0M
    10-calowy monitor LCD, z pomiarem
    Oświetlenie LED Kohler
    Koncentryczne zgrubne i dokładne ogniskowanie
    Wyjście USB2.0/3.0 USB2.0/3.0 USB2.0/3.0 USB2.0/3.0
    Oprogramowanie Wygraj PD/7/8/10 Wygraj PD/7/8/10 Wygraj PD/7/8/10 Wygraj PD/7/8/10
  • Mikroskop Mikroskop optyczny Mikroskop elektronowy Mikroskop z sondą skanującą
    Maksymalna rozdzielczość (um) 0,18 0,00011 0,00008
    Uwaga Zanurzenie olejowe 1500x Obrazowanie diamentowych atomów węgla Obrazowanie grafitowych atomów węgla wyższego rzędu
    Opto Edu A62.4503 Mikroskop Sił Atomowych Poziom Badawczy 360 Kąt 10   Opto Edu A62.4503 Mikroskop Sił Atomowych Poziom Badawczy 360 Kąt 11
  • Interakcja sonda-próbka Zmierz sygnał Informacja
    Zmuszać Siła elektrostatyczna Kształt
    Prąd tunelowy Aktualny Kształt, przewodność
    Siła magnetyczna Faza Struktura magnetyczna
    Siła elektrostatyczna Faza dystrybucja opłat
  •   Rezolucja Warunki pracy Umiarkowanie pracy Uszkodzenie próbki Głębokość kontroli
    SPM Poziom atomu 0.1nm Normalny, płynny, próżniowy Pokój lub niska temperatura Nic Poziom 1 ~ 2 atomów
    TEM Punkt 0.3~0.5nm
    Krata 0,1 ~ 0,2 nm
    Wysoka próżnia Temperatura pokojowa Mały Zwykle <100nm
    SEM 6-10 nm Wysoka próżnia Temperatura pokojowa Mały 10mm @10x
    1um @10000x
    FIM Poziom atomu 0.1nm Bardzo wysoka próżnia 30~80K Obrażenia Grubość atomu
  • Opto Edu A62.4503 Mikroskop Sił Atomowych Poziom Badawczy 360 Kąt 12
  •  
  •  
  •