logo
Opto-Edu (Beijing) Co., Ltd. 0086-13911110627 sale@optoedu.com
Controled Mouse Scanning Electron Microscope Sem 1x~600000x Magnification A63.7080

Mikroskop elektroniczny sterowany przez myszkę Semi 1x~600000x Powiększenie A63.7080

Produkty - Mikroskop skaningowy
  • Podkreślić

    sterowana mysz sem skaningowego mikroskopu elektronowego

    ,

    800000x powiększenie skaningowego mikroskopu elektronowego sem

  • Rezolucja
    1,5 nm przy 15 KV (SE); 3 nm przy 20 KV (BSE)
  • Powiększenie
    1x~600000x
  • Działo elektronowe
    Działo elektronowe z emisją Schottky’ego
  • Napięcie przyspieszające
    0 ~ 30 KV
  • Maksymalna średnica próbki
    175 mm
  • Etap próbki
    Zmotoryzowana scena eucentryczna o pięciu osiach
  • Miejsce pochodzenia
    CHINY
  • Nazwa handlowa
    OPTO-EDU
  • Orzecznictwo
    CE, Rohs
  • Numer modelu
    A63.7080
  • Dokument
    Broszura produktu w wersji PDF
  • Minimalne zamówienie
    1 pc
  • Cena
    FOB $1~1000, Depend on Order Quantity
  • Szczegóły pakowania
    Opakowanie kartonowe, do transportu eksportowego
  • Czas dostawy
    5 ~ 20 dni
  • Zasady płatności
    T/T, West Union, PayPal
  • Możliwość Supply
    5000 sztuk / miesiąc

Mikroskop elektroniczny sterowany przez myszkę Semi 1x~600000x Powiększenie A63.7080

  • Controled Mouse Scanning Electron Microscope Sem 1x~600000x Magnification A63.7080
Uzyskaj cenę Skontaktuj się teraz
Mikroskop elektroniczny sterowany przez myszkę Semi 1x~600000x Powiększenie A63.7080 0
Mikroskop elektroniczny sterowany przez myszkę Semi 1x~600000x Powiększenie A63.7080 1
Mikroskop elektroniczny sterowany przez myszkę Semi 1x~600000x Powiększenie A63.7080 2
Mikroskop elektroniczny sterowany przez myszkę Semi 1x~600000x Powiększenie A63.7080 3
 
Mikroskop elektroniczny sterowany przez myszkę Semi 1x~600000x Powiększenie A63.7080 4
 
Mikroskop elektroniczny sterowany przez myszkę Semi 1x~600000x Powiększenie A63.7080 5
 
Mikroskop elektroniczny sterowany przez myszkę Semi 1x~600000x Powiększenie A63.7080 6
 
Mikroskop elektroniczny sterowany przez myszkę Semi 1x~600000x Powiększenie A63.7080 7
 
Mikroskop elektroniczny sterowany przez myszkę Semi 1x~600000x Powiększenie A63.7080 8
 
Mikroskop elektroniczny sterowany przez myszkę Semi 1x~600000x Powiększenie A63.7080 9
 
Mikroskop elektroniczny sterowany przez myszkę Semi 1x~600000x Powiększenie A63.7080 10
 
Mikroskop elektroniczny sterowany przez myszkę Semi 1x~600000x Powiększenie A63.7080 11
 
Mikroskop elektroniczny sterowany przez myszkę Semi 1x~600000x Powiększenie A63.7080 12
 
A63.7080, A63.7081 Główna funkcja oprogramowania
Zintegrowane uruchomienie wysokonapięciowe Automatyczne włączanie / wyłączanie żarówki Regulacja zmian
Ustawienie jasności Elektryczne do centralnej regulacji Automatyczna jasność
Ustawienie kontrastu Regulacja obiektywu Automatyczne skupienie
Ustawienie powiększania Obiecujące odgazowanie Automatyczna eliminacja astigmatyzmu
Wybrany tryb skanowania obszaru Elektryczna regulacja obrotu Zarządzanie parametrami mikroskopu
Tryb skanowania punktów Zmiana przemieszczenia wiązki elektronów Wyświetlenie wielkości pola skanowania w czasie rzeczywistym
Tryb skanowania linii Regulacja nachylenia wiązki elektronów Regulacja obiektywu
Skanowanie powierzchni Ustawienie prędkości skanowania Wielokanalizowane wejście
Monitorowanie mocy wysokonapięciowej Centryzacja huśtawkowa Pomiar linijki


Mikroskop elektroniczny sterowany przez myszkę Semi 1x~600000x Powiększenie A63.7080 13
Mikroskop elektroniczny sterowany przez myszkę Semi 1x~600000x Powiększenie A63.7080 14
 
SEM A63.7069
A63.7069-L
A63.7069-LV		 A63.7080
A63.7080-L		 A63.7081
Rozstrzygnięcie 3nm@30KV ((SE)
6nm@30KV ((BSE)		 1.5nm@30KV(SE)
3nm@30KV ((BSE)		 1.0nm@30KV(SE)
3.0nm@1KV(SE)
2.5nm@30KV ((BSE)
Zwiększenie 1x~450000x,Negatywne prawdziwe powiększanie 1x~600000x, negatywne prawdziwe powiększenie 1x~3000000x Negatywne prawdziwe powiększenie
Elektrowa broń Wyrzutki z włókna wolframowego z przedśrodkiem Strzelba z emisją Schottky Field Strzelba z emisją Schottky Field
napięcie Napięcie przyspieszające 0.2/30 kV, ciągłe regulowanie, krok regulowania 100V@0-10Kv, 1KV@10-30Kv
Krótki przegląd Funkcja szybkiego przeglądu obrazu N/A N/A
System soczewek Trójpoziomowe soczewki elektromagnetyczne Wielopoziomowe soczewki elektromagnetyczne
Otwór 3 Molibdenowe otwory obiektywu, regulowane poza systemem próżniowym, bez konieczności demontażu obiektywu do zmiany otworu
System próżniowy 1 Pompa turbo molekularna
1 Pompa mechaniczna
Próbka pomieszczenia próby próby próby próby próby próby próby próby próby próby próby próby próby próby próby próby próby próby próby próby próby próby próby próby próby próby próby próby próby próby próby próby próby próby próby próby próby próby próby próby próby próby próby próby próby próby
Próżnia w pomieszczeniu z bronią elektroniczną> 2,6E-3Pa
Całkowicie automatyczne sterowanie próżnią
Funkcja blokady próżniowej

Opcjonalny model: A63.7069-LV
1 Pompa turbo molekularna
2Pompy mechaniczne
Próbka pomieszczenia próby próby próby próby próby próby próby próby próby próby próby próby próby próby próby próby próby próby próby próby próby próby próby próby próby próby próby próby próby próby próby próby próby próby próby próby próby próby próby próby próby próby próby próby próby próby
Próżnia w pomieszczeniu z bronią elektroniczną> 2,6E-3Pa
Całkowicie automatyczne sterowanie próżnią
Funkcja blokady próżniowej
Niska próżniaZakres 10 ~ 270 Pa dla szybkiego przełączania w 90 sekund dla BSE ((LV)		 1 zestaw pomp jonowych
1 Pompa turbo molekularna
1 Pompa mechaniczna
Próbka pomieszczenia próby próby próby próby próby próby próby próby próby próby próby próby próby próby próby próby próby próby próby próby próby próby próby próby próby próby próby próby próby próby próby próby próby próby próby próby próby próby próby próby próby próby próby próby
Próżnia w pomieszczeniu broni elektronicznej> 2E-7 Pa
Całkowicie automatyczne sterowanie próżnią
Funkcja blokady próżniowej		 1 pompa jonowa z rozpylaczem
1 pompa łącznika jonowego Gettera
1 Pompa turbo molekularna
1 Pompa mechaniczna
Próbka pomieszczenia próby próby próby próby próby próby próby próby próby próby próby próby próby próby próby próby próby próby próby próby próby próby próby próby próby próby próby próby próby próby próby próby próby próby próby próby próby próby próby próby próby próby próby próby
Próżnia w pomieszczeniu broni elektronicznej> 2E-7 Pa
Całkowicie automatyczne sterowanie próżnią
Funkcja blokady próżniowej
Detektor SE: Detektor elektronów wtórnych o wysokiej próżni (z ochroną detektora) SE: Detektor elektronów wtórnych o wysokiej próżni (z ochroną detektora) SE: Detektor elektronów wtórnych o wysokiej próżni (z ochroną detektora)
BSE: Segmentacja półprzewodników 4
Detektor rozpraszania z tyłu		 Opcjonalnie Opcjonalnie
Opcjonalny model: A63.7069-LV
BSE (LV): Półprzewodnik 4 Segmentacja
Detektor rozpraszania z tyłu		 　 　
CCD:Infraczerwona kamera CCD CCD:Infraczerwona kamera CCD CCD:Infraczerwona kamera CCD
Rozszerzenie portu 2 Rozszerzenie portów na pomieszczenie do pobierania próbek
EDS, BSD, WDS itp.		 4 Rozszerzenie portów na pomieszczenie próbkowe dla
BSE, EDS, BSD, WDS itp.		 4 Rozszerzenie portów na pomieszczenie próbkowe dla
BSE, EDS, BSD, WDS itp.
Etap próbki 5 Osi Etap, 4Auto.+ 1PodręcznikKontrola
Zakres jazdy:
X = 70 mm, Y = 50 mm, Z = 45 mm,
R=360°, T=-5°~+90° ((Ręczne)
Dotknij funkcji ostrzegania i zatrzymania

Opcjonalny model:
A63.7069-L5 osi Auto duży etap		 5 OsiAuto. ŚrodkowaEtap
Zakres jazdy:
X = 80 mm, Y = 50 mm, Z = 30 mm,
R=360°, T=-5°~+70°
Dotknij funkcji ostrzegania i zatrzymania

Opcjonalny model:
A63.7080-L5 OsiAuto. WielkieEtap		 5 OsiAuto. WielkieEtap
Zakres jazdy:
X = 150 mm, Y = 150 mm, Z = 60 mm,
R=360°, T=-5°~+70°
Dotknij funkcji ostrzegania i zatrzymania
Maksymalny odmian Dia. 175 mm, wysokość 35 mm Dia. 175 mm, wysokość 20 mm Średnica 340 mm, wysokość 50 mm
System obrazu Prawdziwy obraz nieruchomości o maksymalnej rozdzielczości 4096x4096 pikseli,
Format pliku obrazu: BMP ((Default), GIF, JPG, PNG, TIF		 Prawdziwy obraz nieruchomości o maksymalnej rozdzielczości 16384x16384 pikseli,
Format pliku obrazu: TIF ((Default), BMP, GIF, JPG, PNG
Video: Auto Record Digital. AVI Video		 Prawdziwy obraz nieruchomości o maksymalnej rozdzielczości 16384x16384 pikseli,
Format pliku obrazu: TIF ((Default), BMP, GIF, JPG, PNG
Video: Auto Record Digital. AVI Video
Komputer i oprogramowanie System PC Work Station Win 10, z profesjonalnym oprogramowaniem do analizy obrazu do pełnej kontroli całej operacji mikroskopu SEM, specyfikacja komputera nie mniejsza niż Inter I5 3.2GHz, pamięć 4G,24" monitor IPS LCD, 500G twardy dysk, mysz, klawiatura
Wyświetlacz zdjęć Poziom obrazu jest bogaty i skrupulatny, pokazując powiększenie w czasie rzeczywistym, linijkę, napięcie, szarą krzywą
Wymiar
& Waga		 Mikroskop Korpus 800x800x1850mm
Stół roboczy 1340x850x740mm
Całkowita masa 400 kg		 Mikroskop Korpus 800x800x1480mm
Stół roboczy 1340x850x740mm
Całkowita masa 450 kg		 Mikroskop Korpus 1000x1000x1730mm
Stół roboczy 1330x850x740mm
Całkowita masa 550 kg
Akcesoria opcjonalne
Akcesoria opcjonalne A50.7002Spektrometr promieniowania rentgenowskiego z dyspersją energii EDS
A50.7011Powierzchnia do rozpylania jonów		 A50.7001Detektor elektronów zwrotnego rozpraszania BSE
A50.7002Spektrometr promieniowania rentgenowskiego z dyspersją energii EDS
A50.7011Powierzchnia do rozpylania jonów
A50.7030Panel sterowania silnikiem		 A50.7001Detektor elektronów zwrotnego rozpraszania BSE
A50.7002Spektrometr promieniowania rentgenowskiego z dyspersją energii EDS
A50.7011Powierzchnia do rozpylania jonów
A50.7030Panel sterowania silnikiem

Mikroskop elektroniczny sterowany przez myszkę Semi 1x~600000x Powiększenie A63.7080 15

Mikroskop elektroniczny sterowany przez myszkę Semi 1x~600000x Powiększenie A63.7080 16
A50.7001 Detektor BSE Wymagania w zakresie 1A001.a. dodaje się w pozycji 2A001.b.
Dostępne w składnikach A+B, Informacje morfologiczne A-B;
Dostępne próbki obserwowane bez rozpylania złota;
Dostępne bezpośrednio z mapy szarości.
A50.7002 EDS (detektor promieniowania rentgenowskiego) Okno z azotkiem krzemu (Si3N4) w celu optymalizacji transmisji promieniowania rentgenowskiego o niskiej energii do analizy elementów lekkich;
Doskonała rozdzielczość i zaawansowana elektronika o niskim poziomie hałasu zapewniają wyjątkową wydajność.
Mały odcisk daje elastyczność w zapewnianiu idealnej geometrii i warunków zbierania AATA;
Detektory zawierają 30 mm2 chip.
A50.7003 EBSD (difracja promieniowania elektronów z powrotem rozproszonej) Użytkownik mógłby analizować orientację kryształową, fazę kryształową i mikrostrukturę materiałów oraz właściwości związane z nimi.
automatyczna optymalizacja ustawień kamery EBSD
podczas gromadzenia danych, wykonywać interaktywną analizę w czasie rzeczywistym w celu uzyskania maksymalnych informacji
Wszystkie dane zostały oznaczone znaczkiem czasu, który można zobaczyć w dowolnym momencie.
wysoka rozdzielczość 1392 x 1040 x 12
Prędkość skanowania i indeksowania: 198 punktów/sek, przy użyciu Ni jako standardowego, w warunkach 2~5nA, może zapewnić wskaźnik ≥99%;
działa dobrze w warunkach niskiego prądu wiązki i niskiego napięcia 5kV przy 100pA
dokładność pomiaru orientacji: lepsza niż 0,1 stopnia
Korzystanie z systemu indeksu triplex: nie ma potrzeby polegać na definicji pojedynczego pasma, łatwe indeksowanie niskiej jakości wzoru
dedykowana baza danych: specjalna baza danych EBSD uzyskana przez dyfrakcję elektronów: > 400 struktury fazowej
Możliwość indeksowania: może automatycznie indeksować wszystkie materiały krystaliczne 7 systemów krystalicznych.
Zaawansowane opcje obejmują obliczanie sztywności elastycznej (Elastic Stiffness), współczynnika Taylora (Taylor), współczynnika Schmidta (Schmidt) itp.
A50.7010 Maszyna do powlekania Szklana powłoka ochronna: 250 mm; 340 mm wysokości;
Komora do przetwarzania szkła:
¥88mm; 140mm Wysoka, ¥88mm; 57mm Wysoka;
Wielkość etapu próbki: ¥40 mm (maksymalnie);
System próżniowy: pompa molekularna i pompa mechaniczna;
Detekcja próżni: Pirani Gage;
Wykorzystanie urządzeń, o których mowa w pozycji 2A001.a. lub 2A001.b.
Opieka przed próżnią: 20 Pa z zaworem nawigacyjnym w mikroskalach;
Ruch próbki: rotacja płaszczyzny, przechodzenie nachylenia.
A50.7011 Powierzchnia do rozpylania jonów Komora do przetwarzania szkła: 100 mm; wysokość 130 mm;
Wielkość fazy próbki: 40 mm ((trzymać 6 kubków próbki) ";
Złoty Cel Wielkość: 58 mm * 0,12 mm (tłuszczość);
Detekcja próżni: Pirani Gage;
Opieka przed próżnią: 20 Pa z zaworem nawigacyjnym w mikroskalach;
Średnie gazy: argon lub powietrze ze specjalnym wejściem powietrza do gazu argonu i gazowym regulatorem w mikroskali.
A50.7012 Argon Ion Sputtering Coater Próbka została pokryta węglem i złotem pod wysoką próżnią;
Obrotowa tabela próbkowa, jednolita powłoka, wielkość cząstek około 3-5 nm;
Brak wyboru materiału docelowego, brak uszkodzenia próbek;
Można zrealizować funkcje oczyszczania jonów i rozrzedzania jonów.
A50.7013 Suszarka punktów krytycznych Średnica wewnętrzna: 82 mm, długość wewnętrzna: 82 mm;
zakres ciśnienia: 0 - 2000 psi;
Zakres temperatur: 0-50°C (32°-122°F)
A50.7014 Litografia wiązki elektronowej Na podstawie skanującego mikroskopu elektronicznego opracowano nowy system nanoekspozycji;
Modyfikacja zachowała wszystkie funkcje Sem do tworzenia obrazu szerokości linii w nanoskali;
Zmodyfikowany system Ebl szeroko stosowany w urządzeniach mikroelektronicznych, urządzeniach optoelektronicznych, urządzeniach kwantowych, badań i rozwoju systemów mikroelektroniki.

Mikroskop elektroniczny sterowany przez myszkę Semi 1x~600000x Powiększenie A63.7080 17
A63.7080, A63.7081 Standardowe wyposażenie zużywcze
1 Włókno emisji pola Zainstalowane w mikroskopie 1 sztuk
2 Puchar próbkowy Średnica 13 mm 5 sztuk
3 Puchar próbkowy Dia.32mm 5 sztuk
4 Taśma o dwustronnym przewodzie węglowym 6 mm 1 Opakowanie
5 Ogrzewki próżniowe 　 10 sztuk
6 Tkanina bez włosów 　 1 rurka
7 Pasta polerowa 　 1 sztuk
8 Pudełko próbkowe 　 2 worki
9 Wątek bawełniany 　 1 sztuk
10 Filtr mgły olejowej 　 1 sztuk
A63.7080, A63.7081 Standardowe wyposażenie narzędzi i części
1 Wewnętrzny szesokątny klucz 1.5 mm~10 mm 1 zestaw
2 Pincetki Długość 100-120 mm 1 sztuk
3 Śrubokręt z gniazdką 2*50 mm, 2*125 mm 2 sztuk
4 Skrzyżowany śrubokręt 2*125 mm 1 sztuk
5 Czyste przewody wentylacyjne Średnica 10/6,5 mm (średnica zewnętrzna/wewnętrzna) 5m
6 Zawór obniżający ciśnienie wentylacji Ciśnienie wyjściowe 0-0,6 MPa 1 sztuk
7 Wewnętrzne źródło zasilania do pieczenia 0-3A prąd stały 2 sztuk
8 Zasilanie UPS 10 kVA 2 sztuk

Mikroskop elektroniczny sterowany przez myszkę Semi 1x~600000x Powiększenie A63.7080 18
tagi:

Przenośny cyfrowy mikroskop

ręczny mikroskop cyfrowy

mikroskop ręczny

Produkty powiązane

Nasze produkty sprzedawane są na całym świecie. Możesz być spokojny o cały proces naszych produktów.

Uzyskaj wycenę