◆ Zminiaturyzowany i zdejmowany projekt, bardzo łatwy do przenoszenia i nauczania w klasie
◆ Głowica detekcyjna i etap skanowania próbki są zintegrowane, struktura jest bardzo stabilna, a przeciwdziałanie zakłóceniom jest silne
◆ Próbka z napędem jednoosiowym automatycznie zbliża się do sondy pionowo, dzięki czemu końcówka igły jest prostopadła do skanu próbki
◆ Inteligentna metoda podawania igły sterowanej silnikiem ciśnieniowej piezoelektrycznej ceramicznej automatycznej detekcji chroni sondę i próbkę
◆ Boczny system obserwacji CCD, obserwacja w czasie rzeczywistym stanu wprowadzenia igły sondy i pozycjonowania obszaru skanowania próbki sondy
◆Metoda wstrząsoodporna zawieszenia sprężynowego, prosta i praktyczna, dobry efekt wstrząsoodporny
◆ Zintegrowany edytor użytkownika korekcji nieliniowej skanera, charakterystyka nanometryczna i dokładność pomiaru lepsza niż 98%
| A61.4510 | |
| Tryb pracy | Tryb stałej wysokości Tryb prądu stałego |
| Aktualna krzywa widma | IV krzywa Krzywa prąd-odległość |
| Zakres skanowania XY | 5×5um |
| Rozdzielczość skanowania XY | 0,05nm |
| Zakres skanowania Z | 1um |
| Rozdzielczość skanowania Y | 0,01 nm |
| Szybkość skanowania | 0.1Hz~62Hz |
| Kąt skanowania | 0~360° |
| Wielkość próbki | Φ≤68mm H≤20mm |
| Ruch na scenie XY | 15×15mm |
| Amortyzująca konstrukcja | Zawieszenie sprężynowe |
| System optyczny | Ciągły zoom 1~500x |
| Wyjście | USB2.0/3.0 |
| Oprogramowanie | Wygraj PD/7/8/10 |
| Mikroskop | Mikroskop optyczny | Mikroskop elektronowy | Mikroskop z sondą skanującą |
| Maksymalna rozdzielczość (um) | 0,18 | 0,00011 | 0,00008 |
| Uwaga | Zanurzenie olejowe 1500x | Obrazowanie diamentowych atomów węgla | Obrazowanie grafitowych atomów węgla wyższego rzędu |
|
|
|
| Interakcja sonda-próbka | Zmierz sygnał | Informacja |
| Zmuszać | Siła elektrostatyczna | Kształt |
| Prąd tunelowy | Aktualny | Kształt, przewodność |
| Siła magnetyczna | Faza | Struktura magnetyczna |
| Siła elektrostatyczna | Faza | dystrybucja opłat |
| Rezolucja | Warunki pracy | Umiarkowanie pracy | Uszkodzenie próbki | Głębokość kontroli | |
| SPM | Poziom atomu 0.1nm | Normalny, płynny, próżniowy | Pokój lub niska temperatura | Nic | Poziom 1 ~ 2 atomów |
| TEM | Punkt 0.3~0.5nm Krata 0,1 ~ 0,2 nm |
Wysoka próżnia | Temperatura pokojowa | Mały | Zwykle <100nm |
| SEM | 6-10 nm | Wysoka próżnia | Temperatura pokojowa | Mały | 10mm @10x 1um @10000x |
| FIM | Poziom atomu 0.1nm | Bardzo wysoka próżnia | 30~80K | Obrażenia | Grubość atomu |
Nasze produkty sprzedawane są na całym świecie. Możesz być spokojny o cały proces naszych produktów.
